在環(huán)境輻射的測(cè)量中，對(duì)室內(nèi)、外場(chǎng)地及物體的表面污染進(jìn)行直接或間接測(cè)量，對(duì)于及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染以便采取決策行動(dòng)是十分重要的。表面污染測(cè)量的基本要求是及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染，確定污染點(diǎn)位和范圍，并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。常用的表面污染監(jiān) 測(cè)儀器是便攜式的和車載式的，更的表面污染監(jiān)測(cè)管理系統(tǒng)也已經(jīng)開(kāi)發(fā)，用的是位置靈敏探測(cè)器，它不僅可以給出污染點(diǎn)位，同時(shí)還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測(cè)的對(duì)象主要是發(fā)射α、β或γ的核素，測(cè)量方式有α污染測(cè)量，β污染測(cè)量，α /β污染測(cè)量，α/γ污染測(cè)量。

1. 確定表面污染的方法

表面污染可以用直接測(cè)量、掃描測(cè)量和間接測(cè)量確定。 直接測(cè)量是用監(jiān)測(cè)儀器進(jìn)行，可以測(cè)量固定污染，也可測(cè)量松散污染；測(cè)量時(shí)，以適當(dāng)距離在待測(cè)對(duì)象的上方放置探測(cè)器，按預(yù)定時(shí)間間隔測(cè)量并記錄讀數(shù)。 掃描測(cè)量是用探測(cè)器在可能受到污染的表面上方進(jìn)行移動(dòng)測(cè)量，以確定受污染的區(qū)域或點(diǎn)位，在發(fā)現(xiàn)異常點(diǎn)位時(shí)再進(jìn)行定位測(cè)量。 間接測(cè)量是用擦拭方法確定松散污染的水平。 對(duì)一些不能活動(dòng)的固體或者貯存有液體的表面，或者有高本底影響，或者測(cè)量?jī)x器不能靠近表面，直接測(cè)量是困難的，甚是不可能的。此時(shí)只能采用間接測(cè)量方法。

1.1 表面污染的直接測(cè)量

用于直接測(cè)量的表面污染測(cè)量?jī)x要能夠探測(cè)低于規(guī)程限值水平的污染。測(cè)量時(shí)，探測(cè)器要盡可能靠近表面移動(dòng)，一旦探測(cè)到污染，探測(cè)器應(yīng)在該區(qū)域定位測(cè)量足夠時(shí)間，以確認(rèn)污染水平。測(cè)量程序如下：

（1）在一個(gè)有代表性的檢測(cè)區(qū)域測(cè)量本底計(jì)數(shù)率；

（2）定期檢驗(yàn)本底計(jì)數(shù)率；

（3）使用適當(dāng)?shù)臋z驗(yàn)源證明儀器工作正常（每天檢驗(yàn)）。 偏離正常值25%儀器要重新刻度；

（4）探測(cè)器和表面之間的距離要保持盡可能??；

（5）在適當(dāng)位置探測(cè)器少停留3倍儀器的響應(yīng)時(shí)間；

（6）在預(yù)期的環(huán)境條件范圍內(nèi)要知道被測(cè)核素的儀器效率；

（7）在表面不是很平整的情況下，要評(píng)估檢測(cè)對(duì)象表面形狀對(duì)儀器效率的影響；

（8）對(duì)被檢測(cè)對(duì)象表面可以看得見(jiàn)的污物 或氧化物在不能去除的情況下，要考慮對(duì)污染源效率的影響。

1.2 表面污染的間接測(cè)量

對(duì)于間接測(cè)量的擦拭樣品，應(yīng)該用很好屏蔽的固定測(cè)量裝置進(jìn)行測(cè)量。該裝置應(yīng)能測(cè)量低于規(guī)程限值的面活度。大多數(shù)設(shè)備能夠探測(cè)活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。對(duì)于覆蓋100 cm2的擦拭樣品（隱含去除因子F=O.1），測(cè)量非固定α 污染的面活度濃度可小于0.04 Bq •cm 2 ，對(duì)自發(fā)射體小于0. 4 Bq •cm 2是可能的。

2. 表面污染測(cè)量?jī)x的刻度

為了測(cè)量總的表面活度，現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)儀器必須經(jīng)過(guò)適當(dāng)刻度。 刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的 α或β輻射與現(xiàn)場(chǎng)污染物預(yù)期的輻射能量相似。 代表性的刻度源要用現(xiàn)場(chǎng)被評(píng)估的放射性材料制備。 例如，鈾系和牡系衰變圖很復(fù)雜，發(fā)射 α，β和γ，儀器對(duì)每個(gè)單核素的刻度必需仔細(xì)評(píng)估，以確保探測(cè)器對(duì)這些衰變系的響應(yīng)。

儀器的MDC取決于輻射的類型和能量，對(duì)其選擇的核素要代表現(xiàn)場(chǎng)通常碰到的核素類型與能量范圍。 這些核素對(duì)β是14 C，63 Ni，90 Sr，Y ，99 Tc 和204Tl，對(duì) α 是230 Th 和239Pu。 一般講，源有三種幾何形狀：“紐扣源” （類似點(diǎn)源，大約5 cm2），盤(pán)源，覆蓋標(biāo)準(zhǔn)面積大約 15 cm2，或者分布源，典型面積范圍從126到150 cm2 。

3. 表面污染測(cè)量的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換

在表面污染測(cè)量中，在計(jì)算單位面積的活度濃度時(shí)，測(cè)量面積應(yīng)用探測(cè)器的實(shí)際面積，而不是扣除保護(hù)屏幕面積后的有效面積。 要把以計(jì)數(shù)率為單位的儀器讀數(shù)轉(zhuǎn)換為表面活度濃度。

4. 表面污染測(cè)量的探測(cè)靈敏度

測(cè)量系統(tǒng)的探測(cè)靈敏度是指用某些已知或估計(jì)的置信度測(cè)量或探測(cè)到的放射性物質(zhì)的 輻射水平或數(shù)量，它由使用的儀器技術(shù)和測(cè)量程序確定。 影響輻射探測(cè)器探測(cè)能力的主要因素有本底計(jì)率、探測(cè)器的探測(cè)效率和測(cè)量時(shí)間。